Fém spektrális elemzése. Spektrális elemzés A fém kémiai összetételének spektrális elemzése

A fémek kémiai összetételének leghatékonyabb módszere a vizsgált minta fényforrásban gerjesztett atomjainak és ionjainak optikai emissziós spektrumából.


Az optikai emissziós elemzés fényforrása egy elektromos szikra vagy ív plazmája, amelyet gerjesztőforrás (generátor) segítségével állítanak elő. Az elv azon alapul, hogy az egyes elemek atomjai bizonyos hullámhosszúságú - spektrális vonalak - fényt bocsáthatnak ki, és ezek a hullámhosszak különböző elemeknél eltérőek.

Ahhoz, hogy az atomok elkezdhessenek fényt kibocsátani, elektromos kisüléssel gerjeszteni kell őket. Az argon atmoszférában szikra formájában fellépő elektromos kisülés sok elemet gerjeszthet. Magas hőmérsékletű (több mint 10 000 K) plazma érhető el, amely még olyan elemet is képes gerjeszteni, mint a nitrogén.

A volfrámelektróda és a vizsgálati minta közötti szikratartóban 100-1000 Hz frekvenciájú szikrák keletkeznek. A szikraasztalnak van egy fénycsatornája, amelyen keresztül a vett fényjel bejut az optikai rendszerbe. Ebben az esetben a fénycsatorna és a szikratartó argonnal van átöblítve. A környezetből levegőnek a szikratartóba való bejutása a tüzelési pont romlásához, és ennek megfelelően a minta kémiai elemzésének minőségének romlásához vezet.

A modern optikai rendszer a Paschen-Runge séma szerint készül. Egy optikai rendszer spektrális felbontása függ a fókusztávolságtól, az alkalmazott diffrakciós rács vonalainak számától, a lineáris diszperziós paramétertől és az összes optikai komponens minősített beállításától. Az összes szükséges emissziós vonal lefedéséhez elegendő a 140-680 nm-es spektrumtartományt lefedni. A spektrum jó láthatósága érdekében az optikai kamrát inert gázzal (nagyfrekvenciás argonnal) meg kell tölteni, vagy ki kell üríteni.

Fém spektrális elemzésére szolgáló készülék - M5000 analizátor A modern fémanalizátorok rögzítőelemként CCD detektorokkal (vagy PMT-kkel) vannak felszerelve, amelyek a látható fényt elektromos jellé alakítják, regisztrálják és továbbítják a számítógéphez. A monitor képernyőjén az elemek koncentrációját százalékban figyeljük meg.

Az elemzett elem spektrumvonalának intenzitása az elemzett elem koncentrációján túl számos különböző tényezőtől függ. Emiatt lehetetlen elméletileg kiszámítani az összefüggést a vonal intenzitása és a megfelelő elem koncentrációja között. Éppen ezért az elemzéshez olyan standard mintákra van szükség, amelyek összetételükben hasonlóak a vizsgált mintához. Ezeket a standard mintákat először exponáljuk (égetjük) a készüléken. Az égések eredményei alapján minden elemzett elemhez kalibrációs grafikont készítünk, amely bemutatja az elem spektrális vonalának intenzitásának a koncentrációjától való függését. Ezt követően a minták elemzésekor ezeket a kalibrációs grafikonokat használják a mért intenzitások koncentrációkká történő újraszámítására.

Nem szabad megfeledkezni arról, hogy a valóságban több milligramm mintát elemzünk a felületéről. Ezért a helyes eredmények eléréséhez a mintának összetételében és szerkezetében homogénnek kell lennie, és a minta összetételének meg kell egyeznie a vizsgált fém összetételével. A fém öntödékben történő elemzésekor ajánlatos speciális öntőformákat használni a minták öntéséhez. Ebben az esetben a minta alakja tetszőleges lehet. Csak az szükséges, hogy a vizsgált minta megfelelő felülettel rendelkezzen és állványba rögzíthető legyen. Kis minták, például rudak vagy huzalok elemzésére speciális adaptereket használnak.

A módszer előnyei:

  • Alacsony költségű
  • Lehetőség nagyszámú elem egyidejű mennyiségi meghatározására,
  • Nagy pontosság,
  • Alacsony észlelési határok,
  • Könnyű mintakészítés
A Focused Photonics Inc. M5000 fémanalizátorával rendkívül pontos spektrális elemzést végezhet fémek és ötvözetek között!

Rostov-on-Don 2014

Összeállította: Yu.V. Dolgachev, V. N. Pustovoit Fémek optikai emissziós spektrális elemzése. Módszertani utasítások laboratóriumi műhelyhez / Rostov-on-Don. A DSTU kiadói központja. 2014. – 8 p.

Az irányelvek a „roncsolásmentes anyagvizsgálati módszerek”, „nanoanyagok fizikai kémiája”, „nanotechnológiák és nanoanyagok” tudományterületeken való laboratóriumi műhelymunka hallgatói számára készültek, és a szerkezettel kapcsolatos elméleti koncepciók gyakorlati kidolgozására szolgálnak. és az anyagok tulajdonságai, ismeretek megszerzése a fémek és ötvözetek kémiai összetételének elemzésében, .

Megjelent a módszertani bizottság határozata alapján

Gépészmérnöki Technológiák és Berendezések Kar

Tudományos szerkesztő, a műszaki tudományok doktora, Pustovoit professzor V.N. (DSTU)

Lektor: a műszaki tudományok doktora, Kuzharov professzor A.S. (DSTU)

 DSTU Kiadói Központ, 2014

Fémek optikai emissziós spektrumanalízise

A MUNKA CÉLJA: A Magellan Q8 spektrális analizátor céljának, képességeinek, működési elvének megismerése és fémminta kémiai elemzésének elvégzése.

1. Elméleti alapfogalmak

1.1. Az optikai emissziós spektrális elemzés célja

Napjainkban a kémiai összetétel elemzése széles körben alkalmazható a nemzetgazdaság számos ágazatában. A termék minősége, megbízhatósága és tartóssága nagymértékben függ a felhasznált ötvözet összetételétől. A megadott kémiai összetételtől való legkisebb eltérés a tulajdonságok negatív változásához vezethet. Külön veszélyt jelent, hogy ez az eltérés vizuálisan láthatatlan, és ennek következtében speciális műszerek nélkül meghatározhatatlan. Az emberi érzékszervek nem teszik lehetővé a fémek olyan paramétereinek elemzését, mint az összetétele vagy a felhasznált ötvözet minősége. Az egyik olyan eszköz, amely lehetővé teszi az ötvözet kémiai összetételével kapcsolatos szükséges információk megszerzését, az optikai emissziós spektrométer.

Az optikai emissziós spektrométer a fémekben és ötvözetekben lévő kémiai elemek tömeghányadának mérésére szolgál, ipari vállalatok analitikai laboratóriumaiban, fémek és ötvözetek gyors válogatására és azonosítására, valamint nagyméretű szerkezetek elemzésére szolgáló műhelyekben. integritásuk veszélyeztetése nélkül.

1.2 Az optikai emisszió analizátor működési elve

A spektrométer működési elve a sugárzás intenzitásának mérésén alapul az elemzett elemek atomjainak emissziós spektrumának egy bizonyos hullámhosszán. A sugárzást a segédelektróda és a vizsgált fémminta közötti szikrakisülés gerjeszti. Az elemzési folyamat során argon áramlik a vizsgált objektum körül, ami jobban láthatóvá teszi azt a tanulmányozás számára. Emissziós spektrométer rögzíti a sugárzás intenzitását, és a kapott adatok alapján elemzi a fém összetételét. A minta elemtartalmát az emissziós sugárzás intenzitása és a mintában lévő elem tartalma közötti kalibrációs összefüggések határozzák meg.

A spektrométer egy spektrumgerjesztő forrásból, egy optikai rendszerből, valamint egy IBM-kompatibilis számítógépen alapuló automatizált vezérlő és rögzítő rendszerből áll.

A szikraspektrumú gerjesztő forrást úgy tervezték, hogy a minta és az elektróda közötti szikra által kibocsátott fényáramot gerjesztse. A fény spektrális összetételét a vizsgált minta kémiai összetétele határozza meg.

Jelenleg az optikai rendszer legoptimálisabb elrendezése a Paschen-Runge séma alapján történik (1. ábra).

Rizs. 1 Optikai rendszer Paschen-Runge séma szerint

Amikor az izzító kisüléssel gerjesztett atomok alacsonyabb pályára kerülnek, fényt bocsátanak ki. Minden egyes kibocsátott hullámhossz minden atomra jellemző, amely kibocsátotta. A fényt a spektrométer bemeneti résénél fókuszálják, és hullámhosszak szerint homorú holografikus rácsra osztják. Ezt követően a pontosan elhelyezett kimeneti réseken keresztül a fény az elemnek megfelelő fénysokszorozó csövébe jut.

A jó átlátszóság biztosítása érdekében az optikai kamrát ki kell üríteni. Ezenkívül a rendszernek függetlennek kell lennie a külső körülményektől (hőmérséklet és légnyomás). Jelenleg az álló optikai spektrométereket tized fokos pontossággal termikusan stabilizálják.

A kimenő információk mérésének és feldolgozásának folyamatát egy beépített IBM-kompatibilis számítógép vezérli egy speciális szoftvercsomag segítségével. A program konfigurálja a készüléket, standard minták elemzése alapján kalibrációs görbéket készít, paramétereit optimalizálja, vezérli a spektrométer üzemmódokat, feldolgozza, elmenti és kinyomtatja a mérési eredményeket.

1.3 A Magellan Q8 telepítése

A Qantron Magellan (Magellan Q8) egy optikai emisszió-analizátor Bruker vákuumoptikájával (2. ábra). Lehetővé teszi a vas (acél és öntöttvas), réz (bronz, sárgaréz stb.) alumínium (duralumínium stb.) alapú ötvözetek kémiai összetételének meghatározását. A berendezés érzékelőkkel van felszerelve, amelyek meghatározzák az olyan elemek százalékos arányát, mint a szén, nitrogén, foszfor, kén, vanádium, volfrám, szilícium, mangán, króm, molibdén, nikkel, alumínium, kobalt, réz, nióbium, titán, ón, bór, vas, cink, ón, berillium, magnézium, ólom.

A telepítés kalibrálása különféle acélok, öntöttvasak, bronz, alumíniumötvözetek kalibrációs mintáival történik. Az ötvözetek kémiai összetételének meghatározásának pontossága akár századszázalékos is lehet.

Rizs. 2. A Magellan Q8 telepítése

Fémek és ötvözetek elemzése

Fémek és ötvözetek elemzése megoldja a fémek és ötvözeteik elemi összetételének analitikai módszerekkel történő meghatározását. A fő cél a különböző ötvözetek ötvözetminőségének vagy típusának és összetételének ellenőrzése (kvantitatív elemzés).

  • hullámdiszperzív elemzés,
  • kibocsátás elemzés,
  • röntgen fluoreszcencia analízis,
  • vizsgálati elemzés.

Röntgen-fluoreszcencia analízis

Hordozható röntgen fluoreszcens spektrométer fémek és ötvözetek elemzéséhez

Az Al, Fe, Ti ötvözetet megjelenítő spektrum

Az XRF analízis a fém röntgensugárzásnak való kitételével és a fluoreszcencia elemzésével történik modern elektronika segítségével a jó mérési pontosság elérése érdekében.

A módszer előnyei:

  • Roncsolásmentes elemzés.
  • Sok elem nagy pontossággal mérhető.

Az ötvözet azonosítása több elem egyedi kombinációjának azonosításával érhető el meghatározott összetételi tartományokon belül. A pontos kvantitatív elemzés az elemek közötti hatásmátrix megfelelő korrekcióival érhető el.

Az elemzett anyagot néhány másodpercen belül röntgen-fluoreszcenciának tesszük ki. Egy anyagban lévő elemek atomjai gerjesztődnek, és az egyes elemekre jellemző energiájú fotonokat bocsátanak ki. Az érzékelő a mintából kapott fotoelektronokat szétválasztja és energiarégiókba halmozja fel, és az egyes tartományok teljes intenzitása alapján meghatározza az elem koncentrációját. Az , , , MS , , , , , , , , , , , , , , , , elemeinek megfelelő energiatartomány hatékonyan elemezhető.

Az RF analizátor egy központi processzorból, egy röntgencsőből, egy detektorból és egy elektronikus memóriából áll, amely a kalibrációs adatokat tárolja. Ezenkívül a memóriát az ötvözetminőségi adatok és a különféle speciális üzemmódokhoz kapcsolódó egyéb együtthatók tárolására és feldolgozására is használják.

Amint az igaz, a vizsgálat irányítása egy kézi hordozható számítógépen (PDA) alapuló számítógépes programon keresztül történik, amely képet ad a felhasználónak a spektrumról és a kapott elemtartalom-értékekről.

Az elemzés után az értékeket összehasonlítják az acélminőségek adatbázisával, és megkeresik a legközelebbi minőséget.

Emissziós módszer

Emissziós módszer: Az emissziós spektrális analízis során a relatív szennyezőkoncentráció mérésénél a véletlenszerű hibák egyik fő forrása a spektrumgerjesztő forrás paramétereinek instabilitása. Ezért a szennyező atomok mintából történő kibocsátásának és az azt követő optikai gerjesztésnek biztosítására alacsony feszültségű szikrát, az úgynevezett C, R, L - kisülést használnak. Ebben az esetben két paraméter stabilizálódik, amelyektől az emisszió és az optikai gerjesztési folyamatok függenek - a feszültség és az energia a kisülési áramkörben. Ez biztosítja a mérési eredmények alacsony szórását (RMS). Az emissziós módszer különlegessége a könnyű elemek mennyiségi meghatározása vasalapú ötvözetekben (acél kén-, foszfor- és széntartalmának elemzése). A szikra- és levegő-ív módszereken vagy ezek kombinációján alapuló emisszióelemzésre többféle eszköz létezik.

Vizsgálati módszer

Vizsgálati módszer: A vizsgálati olvasztás a fémredukció, a salakképződés és az olvadt anyagokkal történő nedvesítés fizikai és kémiai törvényein alapul. A vizsgálati elemzés fő szakaszai az ezüst és ólom ötvözetének példáján:

  • Minta előkészítés
  • Keverés
  • Tégely olvasztása ólomötvözethez
  • Ólomötvözet öntése vasformákba hűtés céljából
  • Ólomötvözet (werkbley) leválasztása salaktól
  • Werkbley kupelláció (ólom eltávolítás)
  • Nemesfémgyöngy eltávolítása és lemérése
  • Negyedezés (szükség esetén ezüst hozzáadásával)
  • A gyöngy kezelése híg salétromsavval (ezüst feloldása)
  • Az ezüst gravimetriás (tömeg) meghatározása

Lásd még


Wikimédia Alapítvány. 2010.

Nézze meg, mi a „Fémek és ötvözetek elemzése” más szótárakban:

    - (radioaktivációs analízis), a VA-ban végzett kvalitatív és kvantitatív elemanalízis módszere, amely az atommagok aktiválásán és a keletkező radioaktív izotópok (radionuklidok) vizsgálatán alapul. Nukleáris részecskékkel vannak besugározva (termikus vagy... Kémiai enciklopédia

    Fémötvözetek, fémötvözetek, szilárd és folyékony rendszerek, amelyek elsősorban két vagy több fém ötvözésével képződnek, valamint fémek különféle nemfémekkel. Az "S" kifejezés. eredetileg fémes anyagokra hivatkoztak......

    Ennek a kifejezésnek más jelentése is van, lásd: Minta (jelentések). Példa a nemesfémek különböző analitikai módszerekkel történő meghatározására a fő nemesfém (arany, ezüst, platina stb.) arányára, tömegére vonatkozóan a ... ... Wikipédiában

    - ... Wikipédia

    A vegyi anyag meghatározása az egyes fázisok összetétele és száma heterogén rendszerekben vagy vegyületek egyedi formáiban. elemek ércekben, ötvözetekben, félvezetőkben stb. A Ph. A tárgya. mindig merev test. Név F. a. dominánssá vált, bár néhány... Kémiai enciklopédia

    Spektrális analízis, egy anyag atomi és molekulaösszetételének minőségi és mennyiségi meghatározására szolgáló fizikai módszer, amely spektrumainak vizsgálatán alapul. Az S. a. fizikai alapja az atomok és molekulák spektroszkópiája, osztályozása a... ... Nagy Szovjet Enciklopédia

    I A spektrális analízis egy anyag atomi és molekulaösszetételének minőségi és mennyiségi meghatározására szolgáló fizikai módszer, amely spektrumainak vizsgálatán alapul. S. fizikai alapja a. Az atomok és molekulák spektroszkópiája, annak... ... Nagy Szovjet Enciklopédia

    A minőségek módszere. és mennyiségeket. fémek és ötvözetek előzetes elemzése mintavétel (chipek vétele nélkül). Színes és vasfémek ötvözeteinek elemzésekor egy vagy több. csepp sav vagy más oldószer kerül egy alaposan megtisztított felületre... ... Kémiai enciklopédia

    Módszer a víz atomszerkezetének tanulmányozására a benne lévő röntgensugárzás diffrakciójának kísérleti vizsgálatával. R. a. alapvető arról, hogy a kristályok természetesek. Röntgen-diffrakciós rácsok. R. a.…… Nagy enciklopédikus politechnikai szótár


A fémelemző segítségével gyorsan és pontosan ellenőrizheti az ötvözet összetételét vagy típusát. Ez számos ipari ágazatban fontos. Leggyakrabban a másodlagos nyersanyagokat elemezzük így. Ez annak a ténynek köszönhető, hogy még egy tapasztalt szakember sem képes véletlenszerűen elvégezni egy ilyen eljárást. A szóban forgó készüléket spektrométernek is nevezik.

Célja

Fémelemző segítségével megbízhatóan meghatározhatja a rézötvözet összetételét és a benne lévő idegen zárványok százalékos arányát. Ezen kívül lehetőség van a rozsdamentes acél nikkeltartalmának meghatározására. Ebben az esetben a vizsgált alapanyagot nem kell fűrészelni, illetve szerkezetét más módon megzavarni. A készülék hasznos lesz azok számára, akik vas- vagy vashulladékkal dolgoznak, valamint segít azonosítani a nehézfémek jelenlétét az ötvözetben, ami biztosítja a biztonságos működést és az előírt szabványok betartását.

Fajták

A fémek és ötvözetek elemzője egy összetett csúcstechnológiás eszköz, amelynek otthoni létrehozása nagyon problematikus. Ezeknek az eszközöknek két típusa van:

  • Lézeres módosítások, optikai emisszió elvén működik.
  • Röntgen lehetőség, mért értékek meghatározása röntgen segítségével.

A helyhez kötött analógok nagy raktárakra és fémhulladék fogadására és feldolgozására szolgáló bázisokra irányulnak. Például az M-5000 modell egy kompakt módosítás, amely elfér egy asztalon. A készüléket elsősorban másodlagos kohászati ​​gyártásban használják. A szakértők véleménye megerősíti, hogy egy ilyen eszköz optimálisan kombinálja a minőségi és az ármutatókat.

Optikai emissziós modellek

Az optikai emissziós fémanalizátort különféle szerkezetek, munkadarabok, alkatrészek és tömbök vizsgálatára használják. A szikra- vagy levegőívelemzési módszert használják. Az első esetben a fémötvözet némi elpárolgása figyelhető meg.

A vizsgált eszközök munkaközege argon. A készülék üzemmódjának megváltoztatásához elegendő a fúvókát egy speciális érzékelőre cserélni. Az ötvözet kémiai összetételét optikai spektrométer segítségével ismerjük fel és rögzítjük.

Számos kutatási mód létezik, nevezetesen:

  • Fémminőség meghatározása speciális táblázat segítségével.
  • A referenciaspektrum összehasonlítása a vizsgált ötvözet analógjával.
  • Egy „igen-nem” függvény, amely meghatározza az alapanyag meghatározott jellemzőit.

Ez az eszköz ferrittel, alumíniummal, titánnal, rézzel, kobalttal, szerszámötvözetekkel, valamint gyengén ötvözött és rozsdamentes acéllal működik.

Röntgen fluoreszcencia lehetőségek

Ez a típusú fémelemző fényérzékeny elemekből áll, amelyek több mint 40 anyagot képesek kimutatni. A szakértők véleménye megjegyzi ezen eszközök gyors működését, valamint a megfigyelést anélkül, hogy veszélyeztetné az elemzett objektum integritását.

A szóban forgó készülékek kompaktságuk és kis súlyuk miatt könnyen kezelhetőek, nedvességtől védett házzal vannak felszerelve. A szoftver lehetővé teszi a felhasználói szabványok beállítását, a szükséges paraméterek megadását és a nyomtató csatlakoztatását a kapott információk utólagos kinyomtatásával.

Az ilyen analizátorok sajátossága, hogy nem képesek kimutatni a 11-nél kisebb rendszámú elemeket. Ezért nem alkalmasak öntöttvas vagy acél szén kimutatására.

Sajátosságok

Az optikai emissziós típusú fémösszetétel-elemző a következő képességekkel rendelkezik:

  • A készülék képes kimutatni az idegen keverékek kisebb zárványait is, ami fontos a vasfémek foszfor, kén és szén jelenlétének vizsgálatakor.
  • A nagy mérési pontosság lehetővé teszi, hogy a készüléket tanúsítási elemzésre is használják.
  • Az egységet előre telepített programmal kínálják, ami megnehezíti az ötvözet ellenőrzését, hogy a szoftverlistában nem szereplő ismeretlen zárványok bekerüljenek-e.
  • Az ellenőrzés megkezdése előtt a tárgyat reszelővel vagy csiszolókoronggal kell megmunkálni, hogy eltávolítsa a felső szennyeződés- vagy porréteget.

A röntgen-fém spektrális analizátorok jellemzői:

  • Ezek az eszközök nem olyan pontosak, de alkalmasak a hulladékkal való munkavégzéshez és az ötvözetek válogatásához.
  • A készülék sokoldalú. Lehetővé teszi a tartományban elérhető összes elem észlelését.
  • A vizsgált tárgy felületét nem kell gondosan kezelni, elegendő a rozsda vagy festék eltávolítása.

Hordozható fémelemző

A vizsgált eszközök három típusra oszthatók:

  1. Helyhez kötött lehetőség.
  2. Mobil modellek.
  3. Hordozható változatok.

A helyhez kötött modellek speciális helyiségekben helyezkednek el, nagy területet foglalnak el, rendkívül pontos eredményeket produkálnak, és széles funkcionalitással rendelkeznek.

A mobil analógok hordozható vagy mobil eszközök. Leggyakrabban gyárakban és minőségellenőrző laboratóriumokban használják őket.

A hordozható fém- és ötvözetelemző a legkompaktabb, és egy kézben is tartható. Az egység védve van a mechanikai hatásoktól, és terepi körülmények között is használható. Ez a készülék alkalmas azok számára, akik fémdetektor segítségével nyersanyagot keresnek.

Előnyök

A hordozható modellek ugyanúgy működnek, mint a helyhez kötött társaik. A készülék átlagos tömege 1,5-2 kilogramm. A felhasználói vélemények alapján bizonyos területeken egy ilyen eszköz a legjobb megoldás. A készüléket folyadékkristályos képernyővel látták el, amely információkat jelenít meg a vizsgált tárgy összetételéről.

Az egység képes információkat, köztük kutatási eredményeket és fényképeket felhalmozni és tárolni. Az analizátor pontossága körülbelül 0,1%, ami elegendő az újrahasznosító iparban való használatra.

Egy hordozható modell segítségével elemezheti a nagy és összetett szerkezeteket, csöveket, bugákat, kis alkatrészeket, valamint munkadarabokat, elektródákat vagy forgácsokat.

Gyártók

A fémkémiai összetétel-elemzőket gyártó leghíresebb cégek közé tartoznak a következő cégek:

  • Olympus Corporation. Ez a japán vállalat fényképészeti berendezések és optika gyártására specializálódott. A cég elemzői kiváló minőségük miatt népszerűek. A fogyasztói vélemények csak megerősítik ezt a tényt.
  • Focused Photonics Inc. A kínai gyártó a világ egyik vezető gyártója a különféle környezeti paraméterek monitorozására szolgáló eszközök gyártásában. A cég analizátorait nemcsak kiváló minőségük, hanem megfizethető áruk is megkülönbözteti.
  • Bruker. A német céget több mint 50 éve hozták létre. Közel száz országban vannak képviseletei. Ennek a gyártónak az eszközeit kiváló minőségük és a modellek széles választékának lehetősége különbözteti meg.
  • LIS-01. A készülék hazai gyártású. Egy tudományos részleg adta ki, amelynek irodája Jekatyerinburgban található. A készülék fő célja a hulladék válogatása, az ötvözetek diagnosztizálása a bejövő és kimenő ellenőrzés során. A készülék egy nagyságrenddel olcsóbb, mint külföldi analógjai.

Véleményeikben a felhasználók pozitívan beszélnek a MIX5 FPI modellről. Erőteljes, és képes a nehézfémek pontos kimutatására. A készülék használata egyszerű: csak egy gombot kell megnyomni, és várja meg a teszteredményeket. Nagy sebességű üzemmódban ez nem tart tovább 2-3 másodpercnél.

Következtetésképpen

Amint azt a gyakorlat és a fogyasztói vélemények mutatják, a fém- és ötvözetelemzők nem csak az ipari szektorban, hanem a kisvállalatoknál és az egyének körében is igen keresettek. Meglehetősen egyszerű megtalálni a megfelelő lehetőséget a modern piacon. Csak figyelembe kell vennie az eszköz felhasználási körét és képességeit. Az ilyen eszközök ára több ezer rubeltől 20-25 ezer dollárig terjed. Az ár a készülék típusától, funkcionalitásától és gyártójától függ.

ÚTMUTATÓ MŰSZAKI ANYAGOK


KÉMIAI ÉS SPEKTRÁLIS
A.H.A. LISA
ALAP ÉS HEGESZTÉSI ANYAGOK BE
VEGYI ÉS KŐolaj-felszerelés-ÉPÍTÉS

RD RTM 26-362-80 -
RD RTM 26-366-80

Cserébe RTM 26-31-70 -
RTM 26-35-70

A Vegyipari és Kőolajipari Mérnöki Minisztérium 1980.08.09-i levele 11-10-4/1601 sz.

08.09-től. 1980 No. 11-10-4/1601 bevezetés dátuma megállapított 1980.10.01-től

Ezek a műszaki irányelvek a vegyiparban és kőolajiparban használt alap- és hegesztőanyagok kémiai összetételének vizsgálatára szolgáló kémiai és fizikai módszerekre vonatkoznak (a védőgázok kivételével).

Szabványos módszerek kidolgozása a különböző alapú anyagok tanulmányozására, az eredmények számítási módszerei és a biztonsági óvintézkedések.

RD RTM 26-366-80

ÚTMUTATÓ MŰSZAKI ANYAG

GYORSÍTOTT ÉS JELÖLÉSI MÓDSZEREK
KÉMIAI ÉS SPEKTRÁLIS ELEMZÉS
ALAP ÉS HEGESZTÉSI ANYAGOK BE
VEGYI ÉS KŐolaj-felszerelés-ÉPÍTÉS

SPEKTRÁLIS MÓDSZEREK ACÉL ELEMZÉSÉRE

Ez a műszaki útmutató a szén-, ötvözött-, szerkezeti és erősen ötvözött acélok, valamint a fő jelölő- és ötvözőelemek hegesztési anyagainak kémiai összetételének spektrális elemzési módszerrel történő nyomon követésére vonatkozik.

1. AZ ELEMZÉSI MÓDSZEREKRE VONATKOZÓ ÁLTALÁNOS KÖVETELMÉNYEK

1.2. A szabványok (amelyeket GSO ISO TsNIICHM-ként, valamint másodlagos gyártási SOP-ként használnak) és a minták szállítási állapotának meg kell egyeznie.

1.3. A standardok és a minták tömege nem térhet el jelentősen, és legalább 30 g-nak kell lennie.

1.4. A standardok és minták felületének élessége Rz20 legyen.

2. FÉNYKÉPEZÉSI MÓDSZEREK

2.1. Króm, nikkel, mangán, szilícium meghatározása szénacélokban.

2.1.1. Célja

A módszer a króm, nikkel, mangán, szilícium meghatározására szolgál St. acélminőségekben. 3. cikk 5 és mások a GOST 380-71 szerint, 20, 40, 45 acélminőségben és mások a GOST 1050-74 szerint.

Közepes diszperziós kvarc spektrográf, ISP-22, ISP-28 vagy ISP-30.

DT-2 típusú ívgenerátor.

IG-3 típusú szikragenerátor.

Mikrofotométer MF-2 vagy MF-4.

PS-18 spektroprojektor.

Elektrokorund korongos csiszológép, szemcseszám 36-64.

Fájlkészlet (szabványok és minták élesítéséhez).

Fém- és szénelektródák élezésére szolgáló eszköz vagy eszköz.

GSO ISO TsNIIChM készletek - 12; 53; 76; 77 és azok pótlásai.

Állandó rúdelektródákÆ 6-8 mm-ig az M típusú elektrolitikus réztől- Én a GOST 859-78 és a rudak szerintÆ 6 mm-re a spektrális tisztaságú C osztályú széntől 1, C 2, C 3.

„Spectral” fotólemezek, I., II.

Hidrokinon (paradioxibenzol) a GOST 19627-74 szerint.

Nátrium-szulfit (nátrium-szulfit) kristályos a GOST 429-76 szerint.

Metol (para-metilamino-fenol-szulfit) a GOST 5-1177-71 szerint.

Vízmentes nátrium-karbonát a GOST 83-79 szerint.

Ammónium-klorid a GOST 3773-72 szerint.

Nátrium-szulfát (nátrium-tioszulfát) a GOST 4215-66 szerint.

Az acélminta végfelületéről csiszolókoronggal 1 mm-es réteget távolítunk el, majd a mintát reszelővel kiélezzük, a felület minősége nem lehet Rz20-nál kisebb. A rézelektródák 90°-os kúpra vannak élezve, 1,5-2,0 mm sugarú lekerekítéssel. A szénelektródákat 1,0–1,5 mm-es platformátmérőjű csonka kúppal élesítik. A fényforrást 75 mm-es gyújtótávolságú kvarckondenzátorral vagy háromlencsés világítási rendszerrel fókuszálják a spektrális berendezés réseire. A lencséket a spektrográf adatlapján megadott távolságra kell felszerelni. A spektrális berendezés résszélessége 0,012-0,015 mm.

2.1.4. Spektrum gerjesztő forrás

A spektrum gerjesztésének forrásaként váltakozó áramú ívet (DG-2 generátor) és nagyfeszültségű szikrát (IG-3 generátor) használnak. A kisülési áramkör fő paraméterei (táblázatban) vannak megadva.

Asztal 1

AC ív

2. táblázat

Nagyfeszültségű szikra

Az áramköri paraméterek értéke

Kapacitás, µF

Induktivitás, µH

Analitikai fesztáv, mm

1,5-től 2,0-ig

A rendszer „összetett”

Az elemzés a spektrális elemzési kézikönyvekben leírt „három standard” vagy fotometriai interpolációs módszerrel történik. Az élesített elektródákat, a standardokat és a mintákat egy állványba helyezzük. Árnyékvetítés segítségével megállapítható a komponenselemzési intervallum. A spektrumokat váltóáramú ív esetén 10 s, nagyfeszültségű szikra esetén 30-40 s előzetes tüzeléssel veszik fel. Az expozíciót a fényképészeti anyagok érzékenységétől függően választjuk ki (az analitikai párok feketedésének a „normál” tartományban kell lennie; az I. típusú fotólemezeknél a „normál” feketedés tartománya 0,4 és 2,0 között van). A standardok és a minták spektrumát legalább 3-szor fényképezzük csillapító nélkül a „három standard” módszerrel és egy 9 lépéses csillapítón keresztül fotometriai interpolációs módszerrel.

A fényképezés végén a fotólemezt szabványos előhívóban dolgozzák fel (az A és B oldatot egyenlő arányban kombinálják az előhívás előtt).

A megoldás; a következőképpen készítsük el: 1 g metolt, 26 g nátrium-szulfátot, 5 g hidrokinont, 1 g kálium-bromidot 500 cm 3 vízben oldunk.

B megoldás; a következőképpen készítjük el: 20 g nátrium-karbonátot 500 cm 3 vízben oldunk.

Az előhívási idő a fotólemezek csomagolásán van feltüntetve, az oldat hőmérséklete 18-20 °C legyen. Az előhívás után a fotólemezt vízben vagy stopoldatban (2,5%-os ecetsavoldatban) le kell öblíteni és rögzíteni.

A rögzítőt a következőképpen állítjuk elő: 200 g nátrium-szulfát; 27 g ammónium-kloridot 500 cm 3 desztillált vízben oldunk.

Rögzítés után a fényképezőlapot folyó hideg vízben alaposan lemossuk és megszárítjuk.

A „három standard” módszer esetében a spektrogramok feldolgozása MF-2 vagy MF-4 mikrofotométeren történik. A mikrofotométer rés 0,15-0,25 mm, a spektrumvonalak szélességétől függően. A fotometriai interpolációs módszerrel az elemzett elemek tartalmát vizuálisan, PS-18 spektroprojektor segítségével értékeljük.

2.1.7. Analitikai vonalak

a) ívgerjesztés:

Cr 267,7 - Fe 268,3

Ni 305,0 - Fe 305,5

Mn 293,3 - Fe 292,6

Si 250,6 - Fe 250,7

b) szikragerjesztés:

Cr 267,7 - Fe 268,9

Ni 341,4 - Fe 341,3

A „három standard” módszer használatakor a kalibrációs grafikonok koordinátákban vannak ábrázolva ( D S, lg VAL VEL), fotometriai interpolációs módszerrel, ill

ahol D S- a meghatározandó elem és a vas összehasonlító vonalak feketedésének különbsége;

lg VAL VEL- koncentráció logaritmusa;

J el - a meghatározandó elem vonalintenzitása;

J Fe- vasvonalak intenzitása.

A reprodukálhatóság négyzetes hibája a meghatározott koncentrációtól függően 2 és 5% között van.

2.2. Króm, nikkel, mangán, szilícium, réz, vanádium, molibdén, alumínium, volfrám, bór meghatározása ötvözött szerkezeti acélokban

2.2.1. Célja

A módszer króm, nikkel, mangán, szilícium, alumínium, réz, vanádium, molibdén, volfrám és bór meghatározására szolgál 40X, 15XM, 38ХМУА stb. acélminőségekben a GOST 4543-71 szerint.

2.2.2. Berendezések, segédberendezések, anyagok, reagensek

Az elemzés elvégzéséhez a pontban meghatározott berendezéseket és készülékeket. A bór meghatározásánál célszerűbb az STE-1 típusú nagy diszperziójú eszközök alkalmazása, amelyek megbízhatóan feloldják a B 249,6 nm és Fe 249,7 nm vonalakat. Szabványként használhatja a GSO ISO TsNIICHM - 20, 21, 22, 28, 29, 32 készleteket, valamint a termelési MOP-okat, amelyeket különféle kémiai laboratóriumok ismételten elemeztek. A fennmaradó anyagok, valamint a spektrogramok feldolgozásához használt reagensek ugyanazok, mint a szénacélok elemzésénél (lásd a bekezdést).

2.2.3. Felkészülés az elemzésre

Az acélminták elemzésre való előkészítése és a minta állványra helyezése a bekezdésben leírtak szerint történik. A világítási rendszer 3 lencsés vagy egylencsés, a lencséket a spektrográf útlevélben megadott távolságokra kell felszerelni. A spektrális berendezés résszélessége 0,012-0,015 mm. A bór ISP-30 típusú közepes diszperziós spektrográfokkal történő elemzésekor a résszélességnek 0,005 és 0,007 mm között kell lennie. Az állandó rézelektródákat a bekezdésben leírtak szerint élesítik. és ívgerjesztésre használják. Spektrálisan tiszta szénelektródák (lásd a bekezdést) a következő elemek meghatározására szolgálnak egy nagyfeszültségű szikrában.

2.2.4. Spektrum gerjesztő forrás

A spektrum gerjesztésének forrásaként váltakozó áramú ívet (DT-2 generátor) és nagyfeszültségű szikrát (IG-3 generátor) használnak. A kisülési áramkör fő paraméterei (táblázatban) vannak megadva.

2.2.5. Elemzés elvégzése

Az elemzés a „három standard” módszerrel történik.

Az elektródák, minták, szabványok (GSO ISO TsNIIChM SOP) felszerelését a bekezdés ismerteti.

A váltakozó áramú ív előkeresési ideje 10 s és 30-40 s, a nagyfeszültségű szikra esetében 30-40 s.

A szabványokat és a mintákat legalább háromszor fényképezzük, az expozíciót a fényképészeti anyagok érzékenységétől függően választjuk ki. A fotólemezek feldolgozása a bekezdésben leírtakkal megegyező összetételű előhívóban és rögzítőben történik.

3. táblázat

AC ív

Paraméterértékek

Meghatározott elem

Íváram, A

Króm, mangán, alumínium, vanádium, volfrám,

Gyulladási fázis, jégeső

molibdén, nikkel

Analitikai fesztáv, mm

1,5-től 2,0-ig

4. táblázat

Nagyfeszültségű szikra

Paraméterértékek

Meghatározott elem

Kapacitás, uF

Króm, nikkel, vanádium, molibdén, réz, szilícium, mangán

Induktivitás, µH

Vonatok száma a tápáram félciklusánként

Beállítási szikraköz, mm

Analitikai fesztáv, mm

A rendszer „összetett”

2.2.6. Fotometria

A fényképezőlemezen a feketedést MF-2 vagy MF-4 mikrofotométerrel mérjük. A mikrofotométer résének szélessége a spektrumvonal szélességétől függően 0,15 és 0,25 mm közötti tartományban van beállítva.

2.2.7. Analitikai vonalak

Az (1. táblázat) jelzett koncentrációkhoz ív- és szikragerjesztést alkalmazó analitikai vonalpárok alkalmazása javasolt.

5. táblázat

AC ív

nagyfeszültségű szikra

Mn 293,3 - Fe 292,6

Mn 293,3 - Fe 293,6

0,100-tól 2,900-ig

Cr 267,7 - Fe 268,3

Cr 267,7 - Fe 268,9

0,100-tól 2000-ig

Ni 305,0 - Fe 305,5

Ni 239,4 - Fe 239,1

0.300-tól 2.000-ig

Mo 317,0 - Fe 320,5

Mo 281,6 - Fe 281,8

0,100 és 1000 között

V 311.0 – Fe 311.6

V 311.0 – Fe 308.3

0,100 és 0,700 között

Si 250,6 - Fe 250,7

Si 251,6 - Fe 251,8

0,100 és 0,800 között

Al 309,2 - Fe 309,4

Al 308,2 - Fe 308,3

0.400-tól 1.500-ig

W 239,7 - Fe 239,8

0.400-tól 2.000-ig

B 249,6 - Fe 249,7

0,003-tól 0,100-ig

Cu 327,3 - Fe 328,6

0,200-tól 0,600-ig

2.2.8. Kalibrációs grafikon felépítése

A grafikonok koordinátákban vannak ábrázolva ( D S, lg VAL VEL) (lásd a tételt).

2.2.9. Reprodukálhatósági hiba

A standard (négyzetes) reprodukálhatósági hiba a meghatározandó koncentrációtól függően 2 és 5% között van.

jegyzet. Az elemzésre szállított mintának meg kell felelnie a bekezdésben meghatározott követelményeknek.

2.3. Króm, nikkel, mangán, szilícium, molibdén, vanádium, nióbium, titán, alumínium, réz szétválasztása erősen ötvözött acélokban

2.3.1. Célja

A módszer a króm, nikkel, mangán, szilícium, molibdén, vanádium, nióbium, titán, alumínium, réz meghatározására szolgál 12X18H9, 12X18H9 acélminőségben T, 12X 18 H10T, 10 X17H 13 M2T , 10Х17Н13М3Т, 08Х18Н12Б stb. a GOST 5949-75 szerint.

2.3.2. Berendezések, segédberendezések, anyagok, reagensek

Az elemzés elvégzéséhez ugyanazok a berendezések, berendezések, anyagok, reagensek szükségesek, mint a bekezdésben.

2.3.3. Felkészülés az elemzésre

Az acélmintát reszelő segítségével élezzük. A felület minőségének legalább Rz20-nak kell lennie. A réz- és szénelektródák élezése a bekezdésben leírt forma szerint történik. Ezután a forrást kvarckondenzátorral vagy 3 lencsés világítórendszerrel a résre fókuszálják; bekezdésben leírtak szerint vannak felszerelve lencsék. A spektrográf résszélessége 0,012 mm legyen.

2.3.4. Spektrum gerjesztő forrás

A spektrum gerjesztésének forrásaként váltakozó áramú ívet (DG-2 generátor) és nagyfeszültségű szikrát (IG-3 generátor) használnak. A kisülési áramkör fő paraméterei megadva vannak (a táblázatban).

6. táblázat

AC ív

7. táblázat

Nagyfeszültségű szikra

Paraméterértékek

Meghatározott elem

Kapacitás, µF

Króm, nikkel, molibdén, mangán, vanádium, nióbium, titán réz

Induktivitás, µH

Vonatok száma a tápáram félciklusánként

Segédhézag, mm

Analitikai fesztáv, mm

1,5-től 2,0-ig

A rendszer „összetett”

2.3.5. Elemzés elvégzése

Az elemzés a „három standard” módszerrel történik. Az elektródák, szabványok és minták állványba szerelése a bekezdésben leírtak szerint történik. Az analitikai rés beállítása sablon vagy árnyékvetítés segítségével történik, a világítási rendszertől függően. Minden mintát és standardot legalább háromszor exponáltunk, 10 s-os előzetes kereséssel a váltakozó áramú ívre, a 30-40 másodperces nagyfeszültségű szikra érdekében. Az expozíció kiválasztása a fényképészeti anyag érzékenységétől függ. A feltárt lemezt a bekezdésben megadott összetételű szabványos előhívóval és fixálóval dolgozzuk fel.

2.3.6. Analitikai vonalak

A (táblázatban) feltüntetett koncentrációkhoz analitikai vonalpárok használata javasolt.

8. táblázat

A meghatározott koncentrációk határértékei, %

Cr 279,2 - Fe 279,3

14,0 és 25,0 között

Cr 314,7 - Fe 315,4

Ni 341,4 - Fe 341,3

6.0-tól 14.0-ig

Ni 301,2 - Fe 300,9

Mo 281,6 - Fe 283,1

1,5-től 4,5-ig

V 311.0 – Fe 308.3

0,5-től 2,0-ig

Nb 319,4 - Fe 3319,0

0,3-tól 1,5-ig

Ti 308,8 - Fe 304,7

0,1-től 1,0-ig

Mn 293,3 - Fe 293,6

0,3-tól 2,0-ig

Si 250,6 - Fe 250,7

0,3-tól 1,2-ig

Cu 327,3 - Fe 346,5

0,1-től 0,6-ig

2.3.7. Fotometria és kalibrációs grafikon felépítése

A fotometriát MF-2, MF-4 mikrofotométeren végezzük, a rés szélessége a bekezdésben van feltüntetve. A grafikon koordinátákban van ábrázolva ( D S, lg C) (lásd a bekezdést), a mintákban lévő elemek koncentrációját kalibrációs görbe segítségével határozzuk meg.

2.3.8. Reprodukálhatósági hiba

A reprodukálhatóság standard (négyzetes) hibája a koncentrációtól és a meghatározandó elemtől függően 1,8 és 4,5% között van.

Megjegyzések:

1. Az elemzésre szállított mintának meg kell felelnie a bekezdésben meghatározott követelményeknek.

2. Ajánlott alumínium elektródák használata, amelyek a VNIIPTkhimnefteapparatura-nál végzett vizsgálatok eredményei szerint nagy pontosságot és reprodukálhatóságot biztosítanak a bekezdésben leírt élezési formával.

3. A erősen ötvözött acélokat célszerű nem szabványos spektrumú gerjesztési forrás - nagyfrekvenciás szikra - segítségével elemezni. Tanulmányok kimutatták, hogy a nagyfrekvenciás szikra 2-3%-os meghatározási pontosságot biztosít nagy koncentrációk elemzésekor; az átmérőjű keresőpontok mérete 2-3-szor kisebb, mint a nagyfeszültségű kondenzált szikra, ami lehetővé teszi a kis méretű szikra elemzését. -átmérőjű, kisméretű és többrétegű hegesztőhuzalok varratok.

3. FOTÓELEKTROMOS MÓDSZEREK

3.1. Célja

A módszerek a króm, mangán, vanádium, molibdén, titán meghatározására szolgálnak X18H9, X18H10T, X18N11B, X20H10M2 minőségű erősen ötvözött acélokban. T , Х20Н10М3Т stb., valamint molibdén, vanádium, mangán, króm meghatározására ötvözött szerkezeti acélokban.

3.2. Berendezések, segédeszközök, anyagok

FES-1 fotoelektromos stylométer.

Állvány SHT-16.

Elektronikus generátor GEU-1.

Élezőgép, reszelőkészlet, elektródák élezésére szolgáló eszköz vagy eszköz.

A GSO ISO TsNIIChM készletei: 9, 27, 45, 46, 94, 29, 21, 32 és mások, helyettesítve azokat, valamint a „másodlagos” gyártási SOP-okat.

8 mm átmérőjű állandó elektródák M-1 minőségű elektrolitikus rézből a GOST 859-78 szerint.

3.3. Felkészülés az elemzésre

Az ötvözött szerkezeti acélok élezése köszörűgépen történik, a szabvány és a minta végfelületéről. Smirgli kő segítségével 1 mm-es réteget távolítunk el, majd reszelővel végezzük az élezést. Az erősen ötvözött acélokat reszelővel élesítik. A felületkezelés minősége legalább Rz20 legyen. A rézelektródákat a bekezdésben leírt forma szerint élezzük. A fényforrást a FES-1 fotoelektromos stylométer réseire fókuszálják raszteres kondenzátor segítségével. A forrás az optikai tengelyre csatlakozik és a raszterkondenzátor az eszközleírásnak megfelelően kerül beépítésre.

3.4. Spektrum gerjesztő forrás

A spektrum gerjesztésének forrásaként különböző áramerősségű, elektronikusan vezérelt váltakozó áramú ívet (GEU-1 generátor) használnak, a gyújtási fázis 90 fok, az analitikai rés 1,5 mm.

3.5. Elemzés elvégzése

Az elemzés a „három standard” módszerrel történik.

A kihegyezett etalonokat, mintákat, elektródákat ShT-16 állványba helyezzük, 1,5 mm-es analitikai hézagot állítunk be a FES-1 kezelési útmutatóban leírtak szerint, bekapcsoljuk az ívet és 10 s-os előzetes tüzeléssel exponáljuk. Összehasonlítási vonalként a fel nem bomlott fényt használják. A felhalmozási és mérési feltételek, valamint az egyéb elemzési feltételek megadva (táblázatban).

3.6. Kalibrációs grafikon felépítése

A grafikon koordinátákban van ábrázolvan, lgC

Ahol n- a potenciométer mozgó skálájának jelzése;

lgC a koncentráció logaritmusa.

A mintában lévő elemek koncentrációját kalibrációs görbe segítségével határozzuk meg.

3.7. Reprodukálhatósági hiba

9. táblázat

Ív nagysága, A

Bejárati rés szélessége, µm

Kilépési rés szélessége, µm

Szűrőszám

Akkumulációs és mérési feltételek

Nem bontott fényjel szint

Analitikai vonalak, nm

Titán rozsdamentes acélban

0,2-től 1,0-ig

Nióbium rozsdamentes acélokban

0,3-tól 1,5-ig

Molibdén rozsdamentes acélokban

1,5-től 4,5-ig

szűrő nélkül

0,7-től 1,5-ig

Molibdén szerkezeti acélokban

0,1-től 0,7-ig

Vanádium rozsdamentes acélokban

0,8-tól 2,5-ig

Vanádium szerkezeti acélokban

0,1-től 0,8-ig

Mangán rozsdamentes acélokban

0,4-től 2,0-ig

Mangán közepesen ötvözött és szerkezeti acélokban

0,2-től 2,0-ig

Króm rozsdamentes acélokban

szűrő nélkül

Króm közepesen ötvözött szerkezeti acélokban

0,3-tól 15-ig

szűrő nélkül

A reprodukálhatóság négyzetes hibája a meghatározott koncentrációtól és elemtől függően 1,5 és 2,5% között mozog.

4. BIZTONSÁGI SZABÁLYOK A SPEKTRÁLIS LABORATÓRIUMBAN végzett munka során

4.1. Általános rendelkezések:

az első alkalommal munkát vállaló spektroszkópiai laboráns csak a spektrális laboratórium vezetőjének biztonsági utasítását követően, közvetlenül a munkahelyén kezdheti meg a munkát;

tíz nap megkettőzés után (tapasztalt spektroszkópossal) ismételt oktatásra kerül sor;

a minősítő bizottság tudásának ellenőrzése után önállóan dolgozhat;

az ismételt oktatást évente legalább kétszer végezzük;

Az eligazítás és az önálló munkavégzés engedélyezése minden alkalommal a vezető aláírásával kerül az ellenőrzési naplóba. laboratóriumi és kapott utasításokat;

A laboratóriumi spektroszkóposnak ismernie kell mind az általános, mind a TB szabályzatban előírt szabályokat. A szabályok be nem tartása közigazgatási szankciót, súlyosabb esetben büntetőeljárást von maga után.

4.2. Biztonsági szabályok a gerjesztőforrások munkához történő előkészítésekor:

a 15 000 V körüli generátor (szikra) feszültség emberi életre veszélyes, a műszakvezető által nem tesztelt és nem ellenőrzött generátort bekapcsolni szigorúan tilos;

A generátor bekapcsolása előtt ellenőriznie kell a csatlakozási áramkör helyességét, amelyet csak a hálózatról való leválasztáskor szabad megtenni. Az eszközök ellenőrzését csak akkor szabad elvégezni, ha a generátor hálózat le van kapcsolva;

A generátor akkor tekinthető üzemkésznek, ha a következőket ellenőrzik:

a primer és szekunder áramkörök vezetékeinek használhatósága,

teste földeltségének megléte,

a generátor vezérlőpaneljén található kapcsoló használhatósága,

helyes elektródacsatlakozás,

az optikai eszköz sínének földelése; ha ezen pontok közül legalább egy nem teljesül, tilos a generátor bekapcsolása;

A generátor primer vagy szekunder áramkörének sérüléseit szolgálatban lévő villanyszerelő javítja ki;

A földelő vezetékeket csak a fő földelőrudakhoz szabad csatlakoztatni.

4.3. A biztonságos munkavégzés szabályai:

a generátor működtetésekor gumi dielektromos szőnyegen kell állnia;

Ne érintse meg az elektródákat a generátor bekapcsolásakor;

a forró elektródákat csak csipesszel kezelje;

nyitott típusú állvány használatakor a spektrumot csak védőszemüveggel fényképezze;

ha a helyiségben nincs elszívás, tilos a gerjesztőforrással dolgozni;

a generátort csak a hálózatról való leválasztással javíthatja meg;

kondenzált szikrával rendelkező generátoron végzett munka során legalább két embernek kell lennie a helyiségben, beleértve a dolgozót is;

A fotometriát elsötétített helyiségben, fényképezéssel váltakozva kell elvégezni;

minden, a gázok kibocsátásával kapcsolatos minta-előkészítési műveletet a motorháztető alatt kell végrehajtani;

A helyiség elhagyásakor ki kell kapcsolni az általános kapcsolót és be kell zárni a helyiség ajtaját.

4.4. Biztonsági szabályok az elektródák és minták élezésekor:

Az elektródák élezését csak az utasítások megérkezése után kezdheti meg;

a csiszolókő csak védőburkolatban legyen;

a csiszológépet földelni kell;

Rezgő csiszolókorongon dolgozni tilos;

a szerszámtámasz és a kör közötti rés nem haladhatja meg a 2-3 mm-t;

munka közben oldalra kell állnia, nem pedig a csiszolókoronggal szemben;

Amikor csiszolókorongon dolgozik, viseljen védőszemüveget;

kisméretű kihegyezett mintákat kézi satuban vagy speciális bilincsekben kell tartani;

A csiszológépnek jól megvilágítottnak kell lennie.

VEGYI ÉS KŐolaj-felszerelés-TECHNOLÓGIAI ÖSSZUNIÓS KUTATÓ ÉS TERVEZŐ INTÉZET (VNIIPTkhimnefteapparatura)

EGYETÉRT:

All-Union Research and Design Institute of Petroleum Engineering (VNIIneftemash)

Vegyipari és kőolajipari mérnöki speciális tervezési és technológiai iroda (SKTBKhimmash)

Bibliográfia

1. Gillebrand V.F. Gyakorlati útmutató a szervetlen analízishez, Goskhimizdat, Moszkva, 1957.

2. Dymov A. M. Technikai elemzés. M., „Kohászat”, 1964.

3. Stepin V.V., Silaeva E.V. és mások Vasfémek, ötvözetek és mangánércek elemzése. M., Vas- és színesfémkohászati ​​kiadó, 1964.

4. Teploukhov V.I. Az acél expressz elemzése. M., Vas- és színesfémkohászati ​​kiadó, 1961.

5. Peshkova V.M., Gromova M.I. Gyakorlati útmutató a spektrofotometriához és kolorimetriához. M., Moszkvai Állami Egyetemi Kiadó, 1965.

6. Kémiai és spektrális elemzések a kohászatban. Gyakorlati útmutató. M., „Tudomány”, 1965.

7. Konkin V.D., Klemesov G.A., Nikitina O.I. Nyersanyagok, fém és salak kémiai, fizikai-kémiai és spektrális vizsgálati módszerei kohászati ​​üzemekben. Harkov, Vas- és színesfémkohászati ​​kiadó, 1961.

8. Babko A.K., Marchenko A.V., Fotometriai elemzés. Módszerek a nemfémek meghatározására, M., „Kémia”, 1974.

9. Charlot G., Az analitikai kémia módszerei. Szervetlen vegyületek kvantitatív elemzése, M., „Chemistry”, 1966.

10. Ritkaföldfém elemek. A Szovjetunió Tudományos Akadémia kiadója, Moszkva, 1963.

11. Sendel E. Kolorimetriás módszerek fémek nyomainak meghatározására, Mir Kiadó, Moszkva, 1964.

12. Korostelev P.P. Reagensek és oldatok a kohászati ​​elemzésben. Moszkva, "Metallurgy" Kiadó, 1977.

13. Ritkaföldfém elemek. A Szovjetunió Tudományos Akadémia kiadója, Moszkva, 1963.

14. Vasziljeva M.T., Malykina V.M. A bór és vegyületeinek elemzése, M., Atomizdat, 1965.

15. Konkin V.D., Zhikhareva V.I. Komplexometriai elemzés, "Tekhnika" Kiadó, Kijev, 1964.

16. Eremin Yu.G., Raevskaya V.V. és mások. „Gyári laboratórium”, 1964, 12. sz.

17. Eremin Yu.G., Raevskaya V.V., Romanov P.N. Felsőoktatási intézmények hírei. "Kémia és kémiai technológia", IX. köt. 6, 1966.

18. Eremin Yu.G., Raevskaya V.V., Romanov P.N. "Journal of Analytical Chemistry", 1966, XXI. kötet, 11., 1303. o.

19. Eremin Yu.G., Raevskaya V.V., Romanov P.N. „Gyári laboratórium”, 1962, 2. sz.

Meghatározott elem

Az elemzési módszer neve

Folyó kiadások

Tőkebefektetések

Bemutatott költségek

Kulonometrikus

Kulonometrikus

Gáz-térfogat

Foszfor szénacélokban

Fotokolorimetriás

Fotokolorimetriás

Hangerő

Foszfor ötvözött acélokban

Titrimetriás

Kivonás-fotometriás

Fotometriai

Volfrám tömegfrakciós módszer

Kivonás-fotometriás

Szilícium ötvözött acélokban

Fotometriai

Fotokolorimetriás

Gravimetrikus

Szilícium a szénacélokban

Súly kénsav

Fotokolorimetriás

Súlya sósav

Súly perklórsav

Fotokolorimetriás

Nikkel ötvözött acélokban

Súlymódszer

Differenciálspektrofotometria

Réz ötvözött acélokban

Kivonás-fotometriás

Fotokolorimetriás

Fotometriai

Polarográfia

Titrimetriás

Gravimetrikus

Atomabszorpció

Cirkónium ötvözött árucikkekben

Súly rézferronofoszfát

Fotokolorimetriás

Molibdén ötvözött acélokban

: Mérsékelt súly

Fotokolorimetriás

Fotokolorimetriás

Vanádium ötvözött acélokban

Volumetrikus módszer

Fotokolorimetriás

Potenciometrikus

Alumínium ötvözött acélokban

Súlymérés elektrolízissel

Fotokolorimetriás

Súly fluor

Kobalt ötvözött acélokban

Fotometriai (0,1-0,5%)

Fotokolorimetriás

Fotometriai (0,5-3,0%)

Arzén szénacélokban

Hangerő

Fotokolorimetriás

Fotokolorimetriás

Bór ötvözött acélokban

Kolorimetriás quinalizarinnal

Kivonás-fotometriás

Kolorimetriás kárminnal

Potenciometrikus

Nióbium ötvözött acélokban

Gravitációs hidrolitikus

Fotokolorimetriás

Súly szerint tanninnal

Fotokolorimetriás

Fotokolorimetriás tiocianát

Cérium ötvözött acélokban

Fotokolorimetriás

Fotokolorimetriás

Megjegyzések a pályázathoz:

egy elemzés elvégzésének folyó költségei a laboránsok fizetésének, az elemzés elvégzéséhez használt berendezések értékcsökkenésének és az egy elemzéshez felhasznált vegyi reagensek költségének összegéből állnak;

a tőkebefektetések tartalmazzák az egy elemzés elvégzésének tulajdonítható berendezések költségét;

az adott költségek tartalmazzák a folyó költségeket és a tőkebefektetéseket, szorozva 0,15-ös standard együtthatóval.

A rovat legfrissebb anyagai:

Órajegyzetek kirándulás a könyvtárba
Órajegyzetek kirándulás a könyvtárba

ÖNKORMÁNYZAT KÖLTSÉGVETÉSI ÓVODAI NEVELÉSI INTÉZMÉNY LENINGRÁDI ÖNKORMÁNYZAT 34. SZÁM KÖLTSÉGVETÉSI ÓVODÁJA...

Projekt
Projekt "együtt olvasni" Projekt együtt olvasni a középső csoportban

Projekt a középső csoportban „Olvass könyveket a gyerekeknek” Téma: „Olvass könyveket gyerekeknek” Projekt útlevél Projektvezető: Kotovshchikova Elena Jurjevna...

Játéktúra téli meséken keresztül az idősebb csoportnak Irodalmi vetélkedő téli mesékről gyerekeknek
Játéktúra téli meséken keresztül az idősebb csoportnak Irodalmi vetélkedő téli mesékről gyerekeknek

Tanórán kívüli óra az általános iskolában a témában: varázslatos téli mesék Szerző: Lidiya Vasilievna Isakova, az MBOU "Vyezdnovskaya Secondary...